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更新时间：2026-10-22 
浏览次数：8近日，我司正式引入尼康（Nikon）MS-51C测量支架，进一步扩充高精度光学测量与精密检测配套产品线，面向精密电子、半导体、光学加工及计量检测客户提供更具针对性的微小尺寸测量支撑方案。
尼康作为光学与精密仪器核心供应商，在光栅尺内置数字测量仪及配套测量支架领域拥有深厚的技术积淀。其测量支架系列覆盖从基础支撑到高刚性稳定测量的全流程需求。依托原厂精密加工技术及成熟的制造工艺，MS-51C具备优异的稳定性与可靠性，在与小量程高精度测头搭配的微尺寸测量基准稳定性方面具备成熟保障。
MS-51C属于尼康数显高度计系列中的高精度陶瓷台面测量支架，是MH-15M、MF-501及MF-1001等测量头的核心配套支撑单元。其采用陶瓷基准台面，兼具高平面度与高刚性特性。该支架的优势在于为小量程测头提供稳定可靠的测量基准与精密对位能力。业界普遍认知是微小工件的厚度与台阶差测量对基准面平面度及系统抗振性要求，而尼康资料指出，MS-51C正是针对微小精密工件精细化检测需求设计的代表性支架。其陶瓷台面具备防锈、不掉屑、耐磨损等特性，平面度控制在0.001mm以下。这一特性使其在与MH-15M测量头搭配应用时，能够有效抑制微小振动对读数的影响，助力实现0.01μm级的稳定测量。
在基础物性方面，MS-51C作为精密测量支架，配备陶瓷基准台面与高刚性立柱结构，可承载小量程测头稳定工作。相比普通支撑结构，该设备具备台面耐磨、基准面平整度高、热膨胀系数低等优势，适配多种测量场景。其与MH-15M测量头直接组合，可完成微型工件的高度差、厚度、台阶差等多种测量任务，适配后续数据记录与工艺分析，灵活匹配不同项目的定制化需求。
在实际应用场景中，MS-51C测量支架的核心应用方向为与MH-15M等测量头搭配的微型精密工件与薄片材料的厚度、台阶差测量。尼康将其列为数显高度计系列中微小尺寸高精度支撑的主推型号之一，适用于半导体元器件、精密钟表零件、光学元件及微型五金等场景，借助其陶瓷基准面与精密对位能力实现微小工件的高精度测量，同时凭借防吸附网格设计保障薄片工件放置的稳定性。此外，该支架也适用于精密电子零件检测、薄膜材料厚度测量、晶圆辅件台阶差检测及高精度机器视觉配套支撑等领域。随着精密制造与微尺寸检测需求持续增长，兼具陶瓷台面、高刚性与稳定基准的测量支架，正成为微小工件检测选型中的关键配套设备。
此次MS-51C测量支架的引进，是我司在尼康高精度光学测量配套产品线上的重要补强。目前我司可提供尼康多款数显高度计测量头、配套计数器及测量支架产品，能够为客户提供型号选型对比、样品申请、技术资料查阅及配套供货服务。未来我们将持续深耕进口光学元器件与精密测量仪器领域，为国内精密制造企业提供更完整、更具前瞻性的供应链支持
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