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我司正式引入尼康(Nikon)MF-501数显高度计测量头

更新时间:2026-10-20      浏览次数:14

近日,我司正式引入尼康(Nikon)MF-501数显高度计测量头,进一步扩充高精度光学测量与精密检测产品线,面向精密电子、半导体、光学加工及计量检测客户提供更具针对性的中行程高精度测量方案。

尼康作为光学与精密仪器核心供应商,在光栅尺内置数字测量仪领域拥有深厚的技术积淀。其数显高度计系列覆盖从基础测量到超高精度检测的全流程需求。依托原厂光栅尺技术及成熟的制造工艺,MF-501具备优异的稳定性与可靠性,在中行程微米级测量与批次一致性方面具备成熟保障。

MF-501属于尼康数显高度计系列中的中行程测量头,是MF-1001与MH-15M之间的补充型号。其测量范围覆盖0~50mm,配合MFC-200计数器可实现最小读数值0.1μm,配合TC-200计数器更可达0.01μm,兼具适中行程与超高精度特性。该测量头的优势在于对中小型工件和常规精密零件的厚度、高度差进行精准测量。业界普遍认知是测量行程与精度之间往往需要权衡取舍,而尼康资料指出,MF-501正是针对中行程与超高精度兼顾需求设计的代表性测量头。这一特性使其在中小型精密零件检测、常规光学元件厚度测量及中等尺寸台阶差检测应用中,能够有效平衡测量范围与精度,助力实现更高一致性的质量控制。

在基础物性方面,MF-501内置光栅尺,可提供0.01μm级最小读数,满足高精度测量需求。相比传统接触式测量仪器,该设备具备操作便捷、读数直观、重复精度高等优势,适配多种测量场景。其测量头行程为50mm,支持与MFC-200及TC-200计数器灵活搭配,可完成高度差、厚度、平面度等多种测量任务,适配后续数据记录与工艺分析,灵活匹配不同项目的定制化需求。

在实际应用场景中,MF-501测量头的核心应用方向为中小型精密仪器与常规电子零件的厚度、高度差测量。尼康将其列为数显高度计系列中中行程高精度测量的主推型号之一,适用于精密电子、半导体封装、光学元件加工及计量室检测等场景,借助其0.01μm级最小读数实现中小尺寸工件的高精度测量,同时凭借50mm行程保障常规工件的操作便利性。此外,该测量头也适用于精密机械零件检测、模具高度测量、常规材料厚度测量及高精度机器视觉配套测量等领域。随着精密制造与高分辨率检测需求持续增长,兼具适中行程、超高精度与稳定读数的数显高度计测量头,正成为精密检测选型中的关键设备。

此次MF-501数显高度计测量头的引进,是我司在尼康高精度光学测量产品线上的重要补强。目前我司可提供尼康多款数显高度计及配套计数器产品,能够为客户提供型号选型对比、样品申请、技术资料查阅及配套供货服务。未来我们将持续深耕进口光学元器件与精密测量仪器领域,为国内精密制造企业提供更完整、更具前瞻性的供应链支持


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