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更新时间：2026-10-20 
浏览次数：16近日，我司正式引入尼康（Nikon）MH-15M数显高度计测量头，进一步扩充高精度光学测量与精密检测产品线，面向精密电子、半导体、光学加工及计量检测客户提供更具针对性的微小尺寸测量方案。
尼康作为光学与精密仪器核心供应商，在光栅尺内置数字测量仪领域拥有深厚的技术积淀。其数显高度计系列覆盖从基础测量到超高精度检测的全流程需求。依托原厂光栅尺技术及成熟的制造工艺，MH-15M具备优异的稳定性与可靠性，在微米级测量与批次一致性方面具备成熟保障。
MH-15M属于尼康数显高度计系列中的紧凑型测量头，是MF-1001与MF-501的补充型号。其测量范围覆盖0～15mm，配合MFC-200计数器可实现最小读数值0.1μm，配合TC-200计数器更可达0.01μm，兼具小型化与超高精度特性。该测量头的优势在于对小型精密仪器和电子零件厚度、高度差的精准测量。业界普遍认知是微小尺寸测量对设备体积与精度提出双重挑战，而尼康资料指出，MH-15M正是针对紧凑空间与超高精度需求设计的代表性测量头。这一特性使其在精密电子零件检测、小型光学元件厚度测量及微小台阶差检测应用中，能够有效降低测量误差，助力实现更高一致性的质量控制。
在基础物性方面，MH-15M内置光栅尺，可提供0.01μm级最小读数，满足高精度测量需求。相比传统接触式测量仪器，该设备具备操作便捷、读数直观、重复精度高等优势，适配多种测量场景。其测量头结构紧凑，支持与MFC-200及TC-200计数器灵活搭配，可完成高度差、厚度、平面度等多种测量任务，适配后续数据记录与工艺分析，灵活匹配不同项目的定制化需求。
在实际应用场景中，MH-15M测量头的核心应用方向为小型精密仪器与电子零件的厚度、高度差测量。尼康将其列为数显高度计系列中紧凑型高精度测量的主推型号之一，适用于精密电子、半导体封装、光学元件加工及计量室检测等场景，借助其0.01μm级最小读数实现微小尺寸的高精度测量，同时凭借紧凑型设计保障狭小空间内的操作便利性。此外，该测量头也适用于精密机械零件检测、模具高度测量、薄膜厚度测量及高精度机器视觉配套测量等领域。随着精密制造与高分辨率检测需求持续增长，兼具紧凑体积、超高精度与稳定读数的数显高度计测量头，正成为精密检测选型中的关键设备。
此次MH-15M数显高度计测量头的引进，是我司在尼康高精度光学测量产品线上的重要补强。目前我司可提供尼康多款数显高度计及配套计数器产品，能够为客户提供型号选型对比、样品申请、技术资料查阅及配套供货服务。未来我们将持续深耕进口光学元器件与精密测量仪器领域，为国内精密制造企业提供更完整、更具前瞻性的供应链支持
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