京都玉崎有限公司对外宣告：柳下技研 YGN-590-FAVG（Fiber Array / Ferrule Apex / Vertex Geometric inspector）光纤插芯端面综合检测仪 已完成入仓质检及上L，现接受单台及系统级配置订购。
YGN-590-FAVG 是在 YGN-590 标准型基础上强化 FA（Fiber Array 光纤阵列）与通用插芯端面几何量（Apex、曲率、偏移）及表面微观形貌评价 的版本，光学系统采用 高 NA 共焦显微＋相位移干涉（PSI）或垂直扫描干涉（VSI）模块可选，可对 PC/APC 端面、小曲率半径（R 1.5～20 mm）及高反射/低反射端面 进行非接触三维重构，Z 向分辨率达 0.1 nm 级（干涉模式），平面度/粗糙度同步评价。FAVG 后缀强调其对 Fiber Array 块、PLC 输出端面、Si 光波导耦合端 之适配——装夹台可换 FA 专用 V 槽基座与压板，自动识别阵列孔位并逐个测 apex offset 与各纤芯相对基面高度差。
到货商品经原厂光学标定（标准平晶/球晶）、软件算法校验（自动识别纤芯区边缘、去噪、拟合球面）及长时间漂移监测，附带校准证书、FA 装夹治具及防尘操作手套。京都玉崎技术部可协助提供与 IEC 60793-2-50、Telcordia GR-326对应判定模板及批量输出 Excel/Csv 报告之宏脚本。
YGN-590-FAVG 多用于光器件厂 FA 块出货检验、PLC/SiPh 波导耦合端面对齐精度分析、高 NA 特种光纤插芯（如保偏 PANDA）端面曲率合规验证。欢迎联系京都玉崎获取报价与交期。
更新时间：2026-07-07 
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