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更新时间：2024-08-06 
浏览次数：594X射线衍射装置是测量物质受到X射线照射时发生的衍射现象的装置。
通过分析测量获得的衍射图案，可以获得有关目标物质的晶体结构的信息。X射线衍射装置由产生X射线的X射线发生器、测量衍射角的测角仪和测量X射线强度的探测器组成。
X射线衍射仪通常用于测量晶体物质，例如单晶、粉末和薄膜。用于有机材料、无机材料、合金、蛋白质等各种材料的研发和分析。
X射线衍射设备用于测量样品受到X射线照射时发生的衍射现象。通过分析获得的衍射图案，可以评价样品的结晶度、取向、晶格缺陷等。
此外，由于衍射图案根据物质的晶体结构而不同，因此通过将未知样品与已知物质的衍射图案进行比较，可用于未知样品的鉴定和定性分析。X射线衍射仪虽然不适合测量非晶材料等非晶材料，但可以测量各种具有结晶性的材料，如粉末、薄膜、合金等。
照射到材料上的 X 射线被材料中的电子散射。对于晶体等原子排列有一定规律的材料，散射的X射线会相互干扰并被放大或衰减，并且散射强度仅在某个方向上增加。这是X射线衍射。
在X射线衍射中，已知当布拉格方程2d sinθ=nλ（d：晶格间距θ：布拉格角n：整数λ：照射的X射线的波长）I成立时，X射线的散射强度增加。是。即，通过固定测定中使用的波长λ，能够求出各种衍射角2θ(入射X射线与衍射X射线之间的角度)的晶格间距d。这样，被测物质的原子排列就可以从测量的衍射图案中揭示出来。
X射线衍射设备的主要类型包括粉末X射线衍射设备、单晶X射线衍射设备、薄膜X射线衍射设备。这些根据X射线照射和检测的方法进行分类。
该方法涉及在用 X 射线照射晶体的同时绕特定轴旋转晶体，并以二维图像的形式测量衍射图案。通过使用专用软件计算获得的二维衍射图，可以获得晶体结构的三维模型。
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