NITTOSEIKO日东精工 低电阻率自动测量仪

NITTOSEIKO日东精工 低电阻率自动测量仪 MCP-S330

NITTOSEIKO日东精工 低电阻率自动测量仪 MCP-S330

特征

导电膜、金属、ITO薄膜等的膜厚和成分的变化一目了然。

能够绘制最大300mm见方的样品并连续测量多个样品。

可连接到 Loresta GX 以测量 10-4 至 10+7Ω 范围

全自动测量、计算、数据处理和3D图形输出

要测量粉末的体积电阻率，只需将样品放入探头单元并将其放置在设备中即可。

该装置施加给定的压力，同时测量粉末的电阻率和压制密度。

该方法使得从新的角度分析粉末的特性成为可能。该设备可用于电子元件和材料的开发和质量控制。

测量目标

金属材料如金属粉末、金属氧化物、陶瓷等；碳材料如活性炭、炭黑、碳纳米管、石墨、石墨烯等。

二次电池电极、电容器、EV电机、线圈等电子部件材料

ITO粉体等薄膜原材料、导电浆料等电路板材料

墨粉相关的磁性材料，例如铁氧体

型号

MCP-T380

MCP-T710

MCP-PD600

ASR 探头RMH501

ESR 探头RMH502

LSR 探头RMH503

PSR 探头RMH504

BSR 探头RMH506

AR 探头RMH508

BR 探头RMH509

探头检查器RMH304

探头检查器RMH311

探头检查器RMH335

用途

Loresta-GXII是一款测量电阻率的测量仪器，电阻率是材料的评估标准之一。

随着科学技术的发展，在研发、生产技术、质量控制等领域，越来越需要能够轻松、快速、日益严格、高精度地管理材料。

其中，电阻率（表面、体积、电导率）是表示材料状态和性能的指标。

Loresta-GXII 是一种可以使用校正系数轻松准确地测量电阻率的设备。

该装置采用符合JIS K 7194的测量方法，可以使用各种探头测量导电塑料、ITO薄膜和硅晶片等多种材料。

与传统的4端子法不同，无需为测量对象准备电极，使用本公司提供的各种4点探头即可一键测量电阻率。

主要测量目标

导电塑料、电磁屏蔽材料、硅片、导电橡胶、

导电涂料、浆料、油墨、金属薄膜、ITO玻璃、薄膜等。

特征

可以随时随地以高精度测量低电阻区域的表面电阻率、体积电阻率（比电阻）和电导率。

与Loresta GP（10 -3至 10 7 ）相比，测量范围从 10 -4扩大至 10 7 Ω

通过改变电流方向即可测量硅片

恒定电流可变功能（可使用微小电流进行样品测量）

可输出2000个测量结果至USB存储器

通过触摸屏提高操作性